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芯片加速老化測(cè)試：Chamber 試驗(yàn)箱技術(shù)解析

2026 年 5 月 19 日 87

冠亞恒溫小編解析 Chamber 試驗(yàn)箱在芯片加速老化測(cè)試中的技術(shù)邏輯。加速老化通過提高溫度、偏置或濕度等應(yīng)力水平，縮短老化周期，在可控時(shí)間內(nèi)評(píng)估芯片長期可靠性，替代自然老化的漫長周期。

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